[发明专利]质谱分析装置有效
申请号: | 201680091635.4 | 申请日: | 2016-12-15 |
公开(公告)号: | CN110073208B | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 山本英树;梅村佳克 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;H01J49/40;H01J49/42 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 针对包含目标化合物的试样,由测定部(1)执行以源自该化合物的已知离子的m/z值为前体离子的产物离子扫描测定,获取轮廓谱数据。在数据处理部(2A)中,峰检测部(22)在轮廓谱上检测峰,产物离子m/z值获取部(23)针对检测到的每个峰获取最大强度所对应的m/z值来作为产物离子的m/z值。虚拟MRM测定数据提取部(24)将前体离子的m/z值、产物离子的m/z值作为MRM转变,并且提取源自产物离子的峰的最大强度作为MRM转变的信号强度值,将其作为虚拟MRM测定数据而保存到存储部(25)。由此,不执行MRM测定而仅通过产物离子扫描测定就能够得到反映了目标化合物的浓度的定量信息。 | ||
搜索关键词: | 谱分析 装置 | ||
【主权项】:
1.一种质谱分析装置,在隔着使离子裂解的碰撞室的前后具有质量分离器,所述质谱分析装置的特征在于,具备:a)产物离子扫描测定执行控制部,其控制各部,使得以源自试样中的目标化合物的已知离子为前体离子来执行产物离子扫描测定,从而获取规定质荷比范围的轮廓谱;b)峰检测部,其针对所述轮廓谱或根据该轮廓谱求出的棒状谱,按照规定的基准来检测峰;c)产物离子质荷比值决定部,其基于从所述轮廓谱检测到的峰所存在的质荷比范围内的一个或多个质荷比值,或者基于从所述棒状谱检测到的峰所对应的一个或多个质荷比值,来求出通过与所述前体离子的质荷比值组合而作为MRM转变进行处理的产物离子的质荷比值;以及d)虚拟MRM测定结果提取部,其提取所述前体离子的质荷比值、由所述产物离子质荷比值决定部决定的产物离子的质荷比值、以及根据从所述轮廓谱或所述棒状谱检测到的峰求出的强度值,来作为虚拟MRM测定结果。
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