[其他]使用荧光纳米金刚石的成像系统有效

专利信息
申请号: 201690000878.8 申请日: 2016-04-08
公开(公告)号: CN209264567U 公开(公告)日: 2019-08-16
发明(设计)人: A·巴姆博;K·C·纽曼 申请(专利权)人: 必康达;以秘书处;卫生和人类服务部为代表的美利坚合众国
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01Q60/54;G01Q70/14
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 姬利永;钱慰民
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了使用荧光纳米金刚石的成像系统。该成像系统包括:成像台,用于安装试样;辐射源,被配置为激发荧光金刚石且被引导到试样上;荧光检测器,被配置为检测金刚石荧光且被配置为检测来自试样的荧光;以及被配置为向试样施加时变磁场的装置。
搜索关键词: 金刚石 成像系统 荧光纳米 配置 荧光 荧光检测器 辐射源 激发荧光 时变磁场 成像台 检测 施加
【主权项】:
1.一种成像系统,其特征在于,包括:成像台,用于安装试样;辐射源,被配置为激发荧光金刚石且被引导到所述试样上;荧光检测器,被配置为检测金刚石荧光且被配置为检测来自所述试样的荧光;以及被配置为向所述试样施加时变磁场的装置。
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