[其他]气体成像系统有效

专利信息
申请号: 201690001093.2 申请日: 2016-06-16
公开(公告)号: CN208060021U 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: J·桑德斯坦;J·斯詹尼伯 申请(专利权)人: 前视红外系统股份公司;菲力尔系统公司
主分类号: G01J3/453 分类号: G01J3/453;G01J3/28;G01J9/02;G01J3/02
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 康艳青;姚开丽
地址: 瑞典*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 本文公开了一种气体成像系统。气体成像系统包括小透镜阵列,其配置为接收来自场景的热辐射并且传输热辐射的多个基本相同的子图像;双折射偏振干涉仪,其配置为基于进入双折射偏振干涉仪的每条光线的相应位置来为多个子图像中的每条光线生成光程差,光程差组合形成干涉条纹图案;以及红外焦平面阵列,其配置为通过双折射偏振干涉仪捕获由于光程差而由干涉条纹图案调制的多个子图像的热图像。捕获的热图像可以表示来自场景的热辐射的多个干涉图样本点,并且可以用于构建来自场景的热辐射的多个高光谱图像。
搜索关键词: 热辐射 气体成像系统 光程差 双折射 干涉条纹图案 偏振干涉仪 热图像 场景 捕获 配置 红外焦平面阵列 图像 高光谱图像 小透镜阵列 干涉图样 偏振干涉 子图像 构建 调制 传输
【主权项】:
1.一种气体成像系统,其特征在于,所述气体成像系统包括:小透镜阵列,其配置为接收来自场景的热辐射并且传输来自所述场景的所述热辐射的基本相同的多个子图像;双折射偏振干涉仪,其配置为接收所述多个子图像,并且基于进入所述双折射偏振干涉仪的每条光线的相应位置,为所述多个子图像中的每条光线生成光程差,所述光程差组合以形成干涉条纹图案;和红外焦平面阵列,其配置为接收由于通过所述双折射偏振干涉仪的所述光程差而由所述干涉条纹图案调制的所述多个子图像,以提供热图像。
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