[发明专利]紫外-可见光-近红外透反射光谱测量装置和测量方法有效
| 申请号： | 201710000703.8 | 申请日： | 2017-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN106841065B | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 刘世杰;王圣浩;王微微;徐天柱 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/25;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种紫外‑可见光‑近红外透反射光谱测量装置和测量方法。测量装置包括复色光源、光栅单色器、光阑、偏振片、分束器、参考光高速探测器、测试光高速探测器、示波器和计算机，本发明优点是：(1)显著提高了透反射光谱的采集速度，可以实现样品透反射光谱的快速测量；(2)测量系统具有较高的测量精度，样品透反射率的测量误差约为0.1％‑0.3％；(3)在测量过程中，光栅单色器内部的机械部件始终保持匀速的运动状态，测试系统因而具有较高的机械稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 紫外 可见光 红外 反射 光谱 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种紫外‑可见光‑近红外透反射光谱测量装置，包括复色光源(1)，在复色光源(1)的光束输出方向依次是单色器(2)、光阑(3)、偏振片(4)和分束器(5)，其特征在于，在所述分束器(5)的参考光出射方向是参考光高速探测器(11)，在所述分束器(5)的测试光出射方向依次是待测样品(7)和测试光高速探测器(12)，所述的参考光高速探测器(11)的输出端与示波器(13)的第一输入端相连，所述的测试光高速探测器(12)的输出端与所述的示波器(13)的第二输入端相连，所述的示波器(13)的输出端与所述计算机(10)的输入端相连，该计算机(10)的输出端与所述的单色器(2)控制端相连。
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