[发明专利]用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置及方法在审
| 申请号： | 201710002510.6 | 申请日： | 2017-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN106769833A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 高克玮;杨杨;宿彦京;庞晓露 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01N17/02 | 分类号： | G01N17/02 |
| 代理公司： | 北京金智普华知识产权代理有限公司11401 | 代理人： | 皋吉甫 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置及方法。测试仪器包括丝束电极、丝束电极电流电位扫描仪、具有成分梯度分布的薄膜样品以及特定的腐蚀介质。采用丝束电极电流电位扫描仪中的丝束电极测量方法得到丝束电极每个探针的电极电位以及电流，从而可以比较薄膜样品表面不同区域的电位分布和电流分布，最终得到待测样品表面的局部电化学参数信息。这种测量方法具有操作简单、能够同时完成多区域的并行测量，因此可以大大提升电化学信息的表征速度，为材料的防蚀性能评价提供一种快速的筛选方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 组合 材料 芯片 通量 电化学 表征 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置，该装置包括上位机、电流电位扫描仪和测量电极，其特征在于，所述测量电极为丝束电极，所述丝束电极作为辅助电极和参比电极。
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