[发明专利]一种FPGA自测的方法及装置在审
申请号: | 201710003023.1 | 申请日: | 2017-01-04 |
公开(公告)号: | CN108267683A | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 王敬美;许乐;汤建新;何勃 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/3185 |
代理公司: | 北京元本知识产权代理事务所 11308 | 代理人: | 秦力军 |
地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种FPGA自测的方法及装置,涉及电子以及自动化测试技术领域,其方法包括:配置有FPGA芯片且能够运行FPGA程序的测试单板接收PC发送的FPGA测试文件及FPGA版本;测试单板通过加载运行FPGA版本,生成能够运行FPGA测试文件的FPGA测试版本;所述测试单板通过运行所述FPGA测试版本,形成能够自动执行FPGA测试文件中各测试任务的多个功能单元,由其进行测试并将测试结果返回给所述PC。本发明可以在真实场景、真实处理时序下对FPGA逻辑电路进行自测,自测结果更可信。 | ||
搜索关键词: | 自测 测试单板 测试文件 测试版本 自动化测试技术 测试 时序 功能单元 真实场景 自动执行 加载 可信 发送 返回 配置 | ||
【主权项】:
1.一种FPGA自测的方法,包括:配置有FPGA芯片且能够运行FPGA程序的测试单板接收PC发送的FPGA测试文件及FPGA版本;测试单板通过加载运行FPGA版本,生成能够运行FPGA测试文件的FPGA测试版本;所述测试单板通过运行所述FPGA测试版本,形成能够自动执行FPGA测试文件中各测试任务的多个功能单元,由其进行测试并将测试结果返回给所述PC;其中,所述FPGA是指现场可编程门阵列。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司,未经中兴通讯股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710003023.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种高密度测试芯片及其测试系统及其测试方法
- 下一篇:一种变频器故障诊断方法