[发明专利]一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置有效
| 申请号： | 201710003418.1 | 申请日： | 2017-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN106501978B | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 刘光耀;蒋耀华;孙平 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 刘伟;胡影 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置，该分析方法包括：获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；将第一母面板的不良拼接图像和第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。由于不良叠加图像的不良信息是从多个母面板汇总得到，能够体现大数据量的面板不良在母面板上的表现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 面板 不良信息 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，包括：获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。
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