[发明专利]一种测量RLC参数的方法

摘要

本发明公开了一种RLC参数的新算法的测量方法，在现代测控系统中，往往要对RLC参数进行实时测量，其精度的高低对系统的功能有决定性的影响[1]。元器件在不同频率测试下，尤其是高频段，其性能和指标都会发生变化[2]。传统的测量方式都是模拟式，有伏安法、电桥法、谐振法等，其精度差，测量频率低，无法满足高频下对元器件的测量。随着对测试频率要求的提高，基于伏安法的半桥平衡法成为了主流方式，提高了测量的准确度。可是在相位关系的处理上，所有可查文献都直接计算出相位，过程繁杂，影响了测量系统的精度。本文提出了一种可以避免直接计算相位的算法。本发明提出了一种基于矢量电压电阻电抗分量的分离，利用相位差正余弦来得到RLC的阻值的测量RLC参数方法，与目前使用的方法相比，测量精度高，实用性强。

主权项

一种基于伏安法侧阻抗原理的测量RLC参数方法，其特征在于，包含以下步骤：S1：RLC参数测量原理；S2：矢量信号的处理；S3：通过对半桥电路两输出正弦信号采样序列进行算法处理；S4：测量系统组成。