[发明专利]GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置有效
| 申请号： | 201710007027.7 | 申请日： | 2017-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN106782246B | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 胡小叙 | 申请（专利权）人： | 昆山国显光电有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置，其中GIP信号测试电路包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试线之间；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号，从而只需要一条信号测试线就能够对每一级GIP信号进行检测，使得显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性，同时提高了不良解析的效率。 | ||
| 搜索关键词： | gip 信号 测试 电路 方法 显示装置 | ||
【主权项】：
一种GIP信号测试电路，其特征在于，包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试线之间；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。
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