[发明专利]一种基于准同视轴的ICF热斑电子温度探测设备

摘要

本发明提供了一种基于准同视轴的ICF热斑电子温度探测设备，所述的探测设备包括子午方向的两块球面物镜、弧矢方向的一块复合球面物镜和X射线的成像板，所构成的两个通道基于Kirkpatrick‑Baze（KB）镜结构成像；惯性约束聚变ICF中热斑发出的X射线经过子午方向的球面物镜反射后形成两个一维成像，而后再经过弧矢方向的复合球面物镜反射后在像面即X射线成像板上形成两个二维成像，结合系统标定数据并对比两个图像的强度，即可得出热斑电子温度的二维分布绝对量。本发明能够实现准同视轴探测，不受不同探测通道间视角差异所引入的视场差别的显著影响，且具有高空间分辨、高集光效率优势，在无需掺杂的情况下给出热斑电子温度的二维结果，具有广阔而重要的应用前景。

主权项

一种基于准同视轴的ICF热斑电子温度探测设备，其特征在于，所述的ICF热斑电子温度探测设备包括位于子午方向、反射面相对的球面物镜Ⅰ（2）和球面物镜Ⅱ（3），位于弧矢方向、反射面向上的复合球面物镜Ⅲ（4）和X射线的成像板（5）；热斑（1）通过间接或直接驱动惯性约束聚变ICF靶丸内爆获得，热斑（1）发射的X射线沿光路Ⅰ入射到球面物镜Ⅰ（2）反射至复合球面物镜Ⅲ（4）的反射面Ⅰ（8）后截取能量带E1的X射线，在成像板（5）上成像为二维的单能像Ⅰ（6），球面物镜Ⅰ（2）的反射面和复合球面物镜Ⅲ（4）的反射面Ⅰ（8）构成一个Kirkpatrick‑Baze 镜通道即KB镜通道Ⅰ；所述的热斑（1）发射的X射线沿光路Ⅱ入射到球面物镜Ⅱ（3）反射至复合球面物镜Ⅲ（4）的反射面Ⅱ（9）后截取能量带E2的X射线，在成像板（5）上成像为二维的单能像Ⅱ（7），球面物镜Ⅱ（3）的反射面和复合球面物镜Ⅲ（4）的反射面Ⅱ（9）构成另一个KB镜通道Ⅱ；所述的单能像Ⅰ（6）和单能像Ⅱ（7）的信号传输至激光磷屏分析仪进行识别，之后通过数据处理获得热斑（1）的二维电子温度；所述的复合球面物镜Ⅲ（4）的中心位于球面物镜Ⅰ（2）和球面物镜Ⅱ（3）的对称面上，成像板（5）的竖直对称面与球面物镜Ⅰ（2）和球面物镜Ⅱ（3）的对称面重合；所述的反射面Ⅰ（8）和反射面Ⅱ（9）上分别涂覆有窄能带X光多层膜。