[发明专利]高空间分辨率磁场检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710017847.4 申请日: 2017-01-11
公开(公告)号: CN106707202B 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 高秀敏;曾祥堉;苗玉;詹秋芳;张荣福 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根;王晶
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种高空间分辨率磁场检测装置及方法,步骤为:1)在原子气体室的底层和顶层设置有反射膜;2)偏振非均匀分布矢量光束经过光束偏转扫描器光束传播方向发生改变,从原子气体室侧面入射实现多次反射动态原子蒸气泵浦;3)探测光源出射探测光束从原子气体室侧面入射,有部分探测光透射出顶层发生透射形成探测光束阵列;4)探测光束阵列经过偏振分光镜阵列的分光后,光电探测器将阵列信号传给信息处理分析单元;5)泵浦路线扫描过程中,重复进行步骤4,信息处理分析单元对数据分析空间差异性的光电分布信息,实现高空间分辨率磁场检测。本发明具有方法简单、无需低温制冷系统、灵敏度高、检测信息量大、动态泵浦、空间分辨率高等特点。
搜索关键词: 空间 分辨率 磁场 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种高空间分辨率磁场检测方法,采用高空间分辨率磁场检测装置,该装置包括原子气体室(1)、偏振非均匀分布矢量光束光源(2)、光束偏转扫描器(3)、探测光源(4)、光电探测器(6)、处理分析单元(7),所述原子气体室(1)的底层(102)和顶层(101)设置反射膜,顶层(101)上方设有光电探测器(6),光电探测器(6)连接处理分析单元(7),所述原子气体室(1)一侧外设有偏振非均匀分布矢量光束光源(2)、光束偏转扫描器(3),探测光源(4),其特征在于,其步骤为:1)偏振非均匀分布矢量光束光源(2)出射的偏振非均匀分布矢量光束经过光束偏转扫描器(3)光束传播方向发生改变,从原子气体室(1)侧面入射实现多次反射动态原子蒸气泵浦;2)探测光源(4)出射探测光束从原子气体室(1)侧面入射,在原子气体室(1)的底层(102)和顶层(101)发生多次反射,有部分探测光透射出顶层(101)发生透射形成探测光束阵列(5);3)原子气体室(1)的顶层(101)透射的探测光束阵列(5)经过偏振分光镜阵列的分光后,被光电探测器(6)接收,光电探测器(6)将阵列信号传给信息处理分析单元(7)进行分析;4)光束偏转扫描器(3)实现偏振非均匀分布矢量光束泵浦路线扫描,重复步骤3),信息处理分析单元(7)对数据分析空间差异性的光电分布信息,实现高空间分辨率磁场检测。
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