[发明专利]薄膜晶体管的制备方法及具有导电孤岛的薄膜晶体管有效

专利信息
申请号: 201710019770.4 申请日: 2017-01-12
公开(公告)号: CN106601621B 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 李喜峰;杨祥;岳致富;姜姝;许云龙;陈龙龙;张建华 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: H01L21/34 分类号: H01L21/34;H01L29/10;H01L29/786;B82Y40/00
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 王加贵
地址: 201900*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种薄膜晶体管的制备方法,制备方法包括:设置基板,在基板上制备栅极薄膜;对栅极薄膜依次进行涂胶、烘烤、光刻、显影、刻蚀和去胶,形成栅电极;在栅电极上制备绝缘层,并在绝缘层上制备源漏电极层;对源漏电极层依次进行涂胶、烘烤、光刻、显影、刻蚀和去胶,同时形成漏电极、源电极和导电孤岛,其中导电孤岛位于漏电极及源电极之间;在漏电极、源电极及导电孤岛之间的间隙内制备半导体层。本发明提供的薄膜晶体管的制备方法,在刻蚀源漏电极的同时,能在源漏电极沟道间制备得到纳米级的导电孤岛,简化了制备薄膜晶体管的工艺步骤,降低了薄膜晶体管的制备成本,而且大幅度提升了薄膜晶体管的稳定性和开态电流。
搜索关键词: 薄膜晶体管 制备 方法 具有 导电 孤岛
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:设置基板,在所述基板上制备栅极薄膜;对所述栅极薄膜依次进行涂胶、烘烤、光刻、显影、刻蚀和去胶,形成栅电极;在所述栅电极上制备绝缘层,并在所述绝缘层上制备源漏电极层;对所述源漏电极层依次进行涂胶、烘烤、光刻、显影、湿法刻蚀和去胶,同时形成漏电极、源电极和导电孤岛,其中所述导电孤岛位于所述漏电极及所述源电极之间,湿法刻蚀液为硝酸、硫酸、草酸和去离子水的混合液,通过调整湿法刻蚀液的用量以及刻蚀时间同时形成漏电极、源电极、位于漏电极和源电极之间的导电孤岛;在所述漏电极、所述源电极及所述导电孤岛之间的间隙内制备半导体层。
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