[发明专利]基于r面SiC图形衬底的非极性a面AlN薄膜及其制备方法有效
申请号: | 201710021851.8 | 申请日: | 2017-01-12 |
公开(公告)号: | CN106784228B | 公开(公告)日: | 2019-01-08 |
发明(设计)人: | 许晟瑞;赵颖;彭若诗;张进成;林志宇;樊永祥;姜腾;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;H01L33/22;H01L33/00 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于r面SiC衬底的非极性a面AlN薄膜,主要解决现有非极性a面AlN薄膜制备工艺复杂,制作周期长和费用高的问题。其自下而上包括:200‑500μm厚的r面SiC衬底层、50‑150nm厚的GaN成核层、1000‑8000nm厚的Al组分渐变AlGaN层和1500‑3000nm厚的非极性a面AlN层,其中r面SiC衬底层的表面设有由金刚石砂纸打磨形成的衬底条纹,用以提高AlN材料的质量;Al组分渐变AlGaN层的Al组分从5%渐变至100%,用以降低AlN材料的应力。本发明无需进行光刻,缩短了制作周期,减小费用成本,可用于制作非极性a面AlN基的紫外和深紫外半导体器件。 | ||
搜索关键词: | 基于 sic 图形 衬底 极性 aln 薄膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于r面SiC衬底的非极性a面AlN薄膜,自下而上包括:r面SiC衬底层、GaN成核层、AlGaN层和a面AlN层,其特征在于:r面SiC衬底层,其表面设有通过金刚石砂纸打磨形成的锯齿状衬底条纹,该衬底条纹为平行于SiC衬底基准边或垂直于SiC衬底基准边;AlGaN层采用Al组分从5%渐变至100%的渐变AlGaN层。
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