[发明专利]一种低基座光谱压缩和高量化精度的全光量化装置及其方法有效
| 申请号： | 201710023312.8 | 申请日： | 2017-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN106647095B | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 张戌艳;张旨遥;邹新海;杨帆;王舒冰;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G02F1/35 | 分类号： | G02F1/35;G02F1/365;G02F2/00;G02F7/00 |
| 代理公司： | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人： | 杨保刚 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及光电技术领域，特别涉及在基于孤子自频移效应全光量化系统中的一种低基座光谱压缩和高量化精度的全光量化装置，有效解决全光量化过程有效位数不高的问题。本发明具体步骤如下：通过孤子自频移效应使输入的超短光脉冲光谱发生红移，完成“强度到波长”映射，得到自频移后的光脉冲；自频移后的光脉冲通过双向二级光谱压缩部分，重复利用反常群速度色散和自相位调制的共同作用实现光谱压缩，从而实现高精度光量化，同时利用耦合比α≠0.5的光耦合器和高非线性光纤构成的环路降低光谱压缩后伴随产生的光谱基底。本发明可同时实现低基座光谱压缩和高量化精度的全光量化效果，简化了系统装置，降低了硬件成本，显著提高了全光量化系统性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基座 光谱 压缩 量化 精度 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种低基座光谱压缩和高量化精度的全光量化装置，其特征在于：包括第一光环行器(1)、第一高非线性光纤(2)、第二光环行器(3)、第一单模光纤(4)、掺铒光纤放大器(5)、第二单模光纤(6)、光耦合器(7)、第二高非线性光纤(8)；第一光环行器(1)的a端口作为输入端，第一光环形器(1)的b端口依次连接第一高非线性光纤(2)和第二光环行器(3)的e端口，第二光环行器(3)的f端口依次连接第一单模光纤(4)和第二光环行器(3)的d端口构成具有反射功能的环路；第一光环行器(1)的c端口依次连接掺铒光纤放大器(5)、第二单模光纤(6)和光耦合器(7)的g端口，光耦合器(7)的i端口依次连接第二高非线性光纤(8)和光耦合器(7)的j端口组成环形回路，光耦合器(7)的h端口作为光量化装置的输出端。
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