[发明专利]一种用于制作拉伸试样的治具有效

专利信息
申请号: 201710030333.2 申请日: 2017-01-17
公开(公告)号: CN106840795B 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 韩文;林奇颖;马荣 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种用于制作拉伸试样的治具,其包括:底座,从底座竖直伸出的第一定位台和第二定位台,第一定位台设置有横向延伸的第一让位槽,从第一让位槽沿竖直方向向下延伸的第一定位槽以及从第一让位槽沿竖直方向向上延伸的第二定位槽,第二定位台设置有横向延伸的第二让位槽,从第二让位槽沿竖直方向向下延伸的第三定位槽以及从第二让位槽沿竖直方向向上延伸的第四定位槽,其中,拉杆组件中的多根拉杆分别嵌入到第一定位槽、第二定位槽、第三定位槽和第四定位槽后而被定位。采用这种拉伸试样进行拉伸测试就能更准确地反应出粘接层的粘接能力。
搜索关键词: 一种 用于 制作 拉伸 试样
【主权项】:
1.一种用于制作拉伸试样的治具,其特征在于,所述拉伸试样包括板状的基板组件以及拉杆组件,基板组件包括第一基板、第二基板、将第二基板和第一基板相互粘接在一起的胶水层,拉杆组件包括四根拉杆:第一拉杆、第二拉杆、第三拉杆以及第四拉杆,所述治具用于将第一拉杆与第三拉杆连接到第一基板上、将第二拉杆与第四拉杆连接到第二基板上而分别进行定位;所述治具包括:底座,从底座竖直伸出的第一定位台和第二定位台,第一定位台设置有横向延伸且用于容纳所述基板组件的第一让位槽,从第一让位槽沿竖直方向向下延伸的第一定位槽以及从第一让位槽沿竖直方向向上延伸的第二定位槽,第二定位台设置有横向延伸且用于容纳所述基板组件的第二让位槽,从第二让位槽沿竖直方向向下延伸的第三定位槽以及从第二让位槽沿竖直方向向上延伸的第四定位槽,其中,拉杆组件中的所述四根拉杆分别嵌入到第一定位槽、第二定位槽、第三定位槽和第四定位槽后而被定位。
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