[发明专利]数字组合逻辑电路输出发生线“与”短接故障的检测方法

摘要

本发明公开了一种数字组合逻辑电路输出发生线“与”短接故障的检测方法，其先获取两个数字组合逻辑电路各自的乘积项构成的集合；然后对全集与第一个集合进行乘积项集合之间的不相交锐积运算，对得到的结果与第二个集合进行乘积项集合之间的不相交锐积运算，对第二次得到的结果与第一次得到的结果进行乘积项集合之间的不相交锐积运算，第三次得到的结果中的乘积项作为测试输入组合；再将测试输入组合加到两个数字组合逻辑电路的输入端，判定两个数字组合逻辑电路是否发生线“与”短接故障；优点是适用于计算机快速计算实现，适合两个大的数字组合逻辑电路输出发生线“与”短接故障的检测。

主权项

1.一种数字组合逻辑电路输出发生线“与”短接故障的检测方法，其特征在于包括以下步骤：①将待检测的两个数字组合逻辑电路分别记为f(X)和g(X)；并设定f(X)展开有p个乘积项，f(X)表示为其p个乘积项的逻辑“或”形式，g(X)展开有q个乘积项，g(X)表示为其q个乘积项的逻辑“或”形式；其中，X表示f(X)和g(X)的输入变量集合，X中至少包含有1个输入变量，p≥1，q≥1；②将f(X)的p个乘积项构成的集合记为C_f(X)，将g(X)的q个乘积项构成的集合记为C_g(X)；③令U表示全集；然后对U与C_g(X)进行两个布尔逻辑函数乘积项集合之间的不相交锐积运算，再将运算结果保存于集合中，其中，的初始值为空集，符号为两个布尔逻辑函数乘积项集合之间的不相交锐积运算符号，符号的作用是去掉两个布尔逻辑函数乘积项集合对应的逻辑覆盖中的公共部分，如就是等于在C_f(X)中去除与C_g(X)相交的部分，即也即符号“∪”为集合间“并”运算符号，符号为乘积项之间的不相交锐积运算符号，1≤i≤p，表示C_f(X)中的第i个乘积项，表示C_g(X)中的第1个乘积项，表示C_g(X)中的第2个乘积项，表示C_g(X)中的第3个乘积项，表示C_g(X)中的第q个乘积项；④对与C_f(X)进行两个布尔逻辑函数乘积项集合之间的不相交锐积运算，再将运算结果保存于集合C_{f(X)_d}中，其中，C_{f(X)_d}的初始值为空集；⑤对与C_{f(X)_d}进行两个布尔逻辑函数乘积项集合之间的不相交锐积运算，再将运算结果保存于集合C_T中，C_T中的乘积项为用于两个数字组合逻辑电路输出发生线“与”短接故障检测的测试输入组合；其中，C_T的初始值为空集；⑥将步骤⑤得到的测试输入组合加到f(X)和g(X)的输入端，若f(X)的输出值与预期值不一致，则判定f(X)和g(X)输出发生线“与”短接故障。