[发明专利]多维度正电子湮没寿命谱和多普勒展宽谱测量系统

摘要

本发明公开了一种多维度正电子湮没寿命谱和多普勒展宽谱测量系统，多维度正电子湮没寿命谱测量系统和多普勒展宽谱测量系统中均包括反符合系统和三维移动系统。所述的反符合系统包括依次相连的正电子探测器、第一前置放大器、第一谱放大器、第一单道分析器、符合器；正电子探测器由闪烁片和光电倍增管通过硅油耦合组成，放射源为同位素放射源，其直接滴于闪烁片上。所述的三维移动系统用来装载样品并使样品在三维方向移动。本发明采用反符合系统实现非样品中湮没信息的排除，可提高探测的可靠性和探测精度；采用三维移动平台调整样品与正电子探测器间的距离和方位，可实现单块不规则样品多维度缺陷的精确无损检测。

主权项

1.一种多维度正电子湮没寿命谱测量系统，包括时间测量系统和控制系统，其中，时间测量系统包括第一BaF2闪烁体探测器、第一恒比甄别器、第二BaF2闪烁体探测器、第二恒比甄别器、时幅转换器和多道分析器；第一BaF2闪烁体探测器、第一恒比甄别器依次相连；第二BaF2闪烁体探测器、第二恒比甄别器依次相连；时幅转换器连接多道分析器，多道分析器连接控制系统；其特征是：还包括反符合系统和三维移动系统，且所述时间测量系统还包括第一延时箱、第二延时箱和符合器；时间测量系统中，第一BaF2闪烁体探测器、第一恒比甄别器、第一延时箱依次相连；第二BaF2闪烁体探测器、第二恒比甄别器、第二延时箱依次相连；第一恒比甄别器和第二恒比甄别器的输出端还连接符合器；第一延时箱和第二延时箱的输出端均连接时幅转换器；反符合系统包括放射源、正电子探测器、第一前置放大器、第一谱放大器和第一单道分析器；正电子探测器、第一前置放大器、第一谱放大器、第一单道分析器、符合器依次相连；正电子探测器由闪烁片和光电倍增管通过硅油耦合组成，且闪烁片和光电倍增管完全避光；放射源用来发射正电子，其置于闪烁片上；三维移动系统用来装载样品并使样品在三维方向移动。