[发明专利]土层结构的探查方法和装置在审
| 申请号： | 201710036393.5 | 申请日： | 2017-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN106802432A | 公开（公告）日： | 2017-06-06 |
| 发明（设计）人： | 张平松;欧元超;汪武;徐宝超;孙斌杨;李建宁 | 申请（专利权）人： | 安徽理工大学 |
| 主分类号： | G01V3/08 | 分类号： | G01V3/08 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人： | 杨泽,刘芳 |
| 地址： | 232001 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种土层结构的探查方法和装置。该方法包括采集待测土壤的电场数据；对所述电场数据执行反演操作，得到所述待测土壤不同位置的电阻率数据；根据所述不同位置的电阻率数据，确定所述待测土壤的电阻率的一阶差分曲线；其中，所述一阶差分曲线用于表征所述待测土壤相邻深度的土壤平均电阻率的差值；根据所述一阶差分曲线的锯齿点，确定所述待测土壤的分层位置。本发明可以直接对土壤进行电法探查，通过得到的电阻率的一阶差分曲线即可得到待测土壤的精细分层结构，无需测量人员对待测土壤进行开挖，节省了人力物力，提高了土层结构的探查效率；另外，本发明基于待测土壤的电阻率获得的土壤的分层位置，提高了探查土壤分层的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 土层 结构 探查 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种土层结构的探查方法，其特征在于，包括：采集待测土壤的电场数据；对所述电场数据执行反演操作，得到所述待测土壤不同位置的电阻率数据；根据所述不同位置的电阻率数据，确定所述待测土壤的电阻率的一阶差分曲线；其中，所述一阶差分曲线用于表征所述待测土壤相邻深度的土壤平均电阻率的差值；根据所述一阶差分曲线的锯齿点，确定所述待测土壤的分层位置。
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