[发明专利]一种推扫式热红外高光谱遥感图像非均匀性校正方法有效
申请号: | 201710037359.X | 申请日: | 2017-01-19 |
公开(公告)号: | CN106780403B | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 谢锋;刘成玉;李忠原;王建宇;舒嵘 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种推扫式热红外高光谱遥感图像非均匀性校正方法,该方法步骤如下:(1)逐波段对原始热红外高光谱遥感图像进行标准矩匹配校正,得到标准矩匹配校正图像;(2)以标准矩匹配校正图像为基础,选择相邻两列像元中相同地物像元;(3)对于相邻两列原始数据,以前一列为基准,用两列中相同地物像元,通过线性回归得到后一列的校正系数,并对后一列进行校正,顺次遍历一个波段的所有列,完成一个波段图像的非均匀性校正。按照此方法,遍历一幅热红外高光谱遥感图像的所有波段,完成一幅热红外高光谱遥感图像的非均匀性校正。本发明的方法具有准确性好,速度快,易操作,无需实时参考黑体数据等特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 推扫式热 红外 光谱 遥感 图像 均匀 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种推扫式热红外高光谱遥感图像非均匀性校正方法,其特征在于包括如下步骤:(1)逐波段对原始热红外高光谱遥感图像进行标准矩匹配校正,得到标准矩匹配校正图像;(2)以标准矩匹配校正图像为基础,选择相邻两列像元中相同地物像元,对于某一波段来说,选择方法为:Φi={j|abs(D′i,j‑D′i‑1,j)≤T,2≤i≤M,1≤j≤N,i,j∈Z}其中,Φi为所选择相邻两列像元中相同地物像元集;D′i,j,D′i‑1,j为标准矩匹配校正像元值;i,j为列、行号;M,N别为列数和行数;T为阈值;abs(·)为取绝对值;(3)对于相邻两列原始数据,以前一列为基准,用两列中相同地物像元,通过线性回归得到后一列的校正系数,计算方法为:{Ai,Bi}=regress(Di,j,Di‑1,j),j∈Φi其中,Ai,Bi为校正系数;regress(·,·)为线性回归;根据校正系数对后一列进行校正,顺次遍历一个波段的所有列,完成一个波段图像的非均匀性校正,计算方法为:
其中,
为校正后像元值;Di,j为原始像元值;(4)按照步骤(1)至步骤(3)流程,遍历一幅热红外高光谱遥感图像的所有波段,完成一幅热红外高光谱遥感图像的非均匀性校正。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710037359.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。