[发明专利]一种基于光学检测的大幅面瓷砖快速检测方法在审

专利信息
申请号: 201710037540.0 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN106767419A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 段春梅;张涛川;杨伟;李大成;徐华冠;彭国亮;钟键浩 申请(专利权)人: 佛山职业技术学院
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/30;G01N21/88
代理公司: 佛山东平知识产权事务所(普通合伙)44307 代理人: 詹仲国,龙孟华
地址: 528100 广东省佛山市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种基于光学检测的瓷砖快速检测方法,包括以下步骤1)利用CCD相机拍摄瓷砖表面图像;2)利用工控机的Labview软件对图像进行识别、分析和尺寸计算,并根据预设的等级将瓷砖划分成不同等级;3)根据计算出的尺寸将激光位移传感器移动到瓷砖中心,利用激光位移传感器对瓷砖表面进行扫描,激光位移传感器在扫描过程中根据光线反射得出瓷砖表面起伏的高度而得出数据模拟量传输给工控机,经过工控机处理后将这个数据读入与工控机连接的数据采集卡,数据采集卡将采集的模拟量进行A/D模式的转换得出转换后的数字量,然后根据这个数字量对瓷砖的平面度进行分级。本发明能快速获得瓷砖的长度、宽度、平面平整度等信息,特别适合国内的陶瓷检测。
搜索关键词: 一种 基于 光学 检测 大幅面 瓷砖 快速 方法
【主权项】:
一种基于光学检测的瓷砖快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:1)利用CCD相机拍摄瓷砖表面图像;2)利用工控机的Labview软件对图像进行识别、分析和尺寸计算,并根据预设的等级将瓷砖划分成不同等级;3)根据计算出的尺寸将激光位移传感器移动到瓷砖中心,利用激光位移传感器对瓷砖表面进行扫描,激光位移传感器在扫描过程中根据光线反射得出瓷砖表面起伏的高度而得出数据模拟量传输给工控机,经过工控机处理后将这个数据读入与工控机连接的数据采集卡,数据采集卡将采集的模拟量进行A/D模式的转换得出转换后的数字量,然后根据这个数字量对瓷砖的平面度进行分级。
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