[发明专利]一种微波管电子枪膨胀量测量装置及方法在审
| 申请号： | 201710042235.0 | 申请日： | 2017-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN106770430A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 王博锋;胡旭华;周冠丽;周健勇;张兆传 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01N25/16 | 分类号： | G01N25/16 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微波管电子枪膨胀量测量装置，包括支架、第一陶瓷杆、第二陶瓷杆、真空装置及读数显微镜，支架置于电子枪聚束极的上方，其设有第一圆形孔和第二圆形孔；第一陶瓷杆插入所述第一圆形孔中；聚束极的位置变化引起支架的位置变化并随之带来第一陶瓷杆的位置变化；第二陶瓷杆插入所述第二圆形孔中，通过所述第二圆形孔与电子枪的阴极接触；电子枪及支架固定于所述真空装置中；读数显微镜置于真空装置的工作台面上，用于记录第一陶瓷杆和第二陶瓷杆的位置变化。本发明的测量装置具有结构简单、测量准确及可靠等优点，可有效缩短微波管电子枪的制作周期，具有较好的推广应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 电子枪 膨胀 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种微波管电子枪膨胀量测量装置，其特征在于，包括：支架，置于电子枪聚束极的上方，其设有第一圆形孔和第二圆形孔；第一陶瓷杆，插入所述第一圆形孔中；聚束极的位置变化引起支架的位置变化并随之带来第一陶瓷杆的位置变化；第二陶瓷杆，插入所述第二圆形孔中，通过所述第二圆形孔与电子枪的阴极接触；真空装置，电子枪及支架固定于所述真空装置中；及读数显微镜，置于真空装置的工作台面上，用于记录第一陶瓷杆和第二陶瓷杆的位置变化。
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