[发明专利]e指数型非线性纳米金属锥探针

摘要

一种高空间分辨率、高灵敏度、能产生强纵向偏振电场并能够对电场强度进行调节的e指数型非线性纳米金属锥探针。该探针由e指数型金属纳米非线性锥形结构构成，当入射光(特别是径向偏振光)照射e指数型非线性纳米金属锥探针底面时，在金属的表面激发出表面等离激元，沿非线性纳米金属锥弯曲表面传播，并压缩至顶端形成高度局域增强的电磁场分布，从而得到强纳米聚焦。本发明可用作扫描近场显微镜、原子力显微镜等扫描探针显微镜以及针尖增强拉曼光谱仪的探针，在单分子成像、热辅助磁记录、纳米传感、纳米成像、纳米光刻和纳米操纵等诸多领域有重要应用价值。

主权项

1.一种能提高空间分辨率和灵敏度以及能产生强纵向偏振电场的e指数型非线性纳米金属锥探针，其特征在于该e指数型非线性纳米金属锥探针由非线性锥形结构构成，该探针在柱状坐标系下的结构方程h(ρ)为：其中：ρ是柱状坐标系下的半径，h0是预设的高度参数，r0是预设的底面半径，h0和r0的大小在纳米量级；a为e指数型非线性因子，且0.04≤α≤0.055，a的变化幅度为0.005；Δh是高度调制因子，且4≤Δh≤12，Δh取整数。