[发明专利]一种纸张涂层材料渗吸特性的测量方法有效

专利信息
申请号: 201710044077.2 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN106814019B 公开(公告)日: 2019-05-14
发明(设计)人: 刘国栋;付思佳;张欣亚;郭凌华 申请(专利权)人: 红河雄风印业有限责任公司
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 西安众和至成知识产权代理事务所(普通合伙) 61249 代理人: 张震国
地址: 652300 云南省*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种纸张涂层材料渗吸特性的测量方法,该方法按照以下方法进行纸张涂层材料渗吸特性的测量,利用氮气吸附仪测量纸张涂层材料的吸附曲线和结构相关参数,通过吸附曲线和结构相关参数求解纸张涂层材料的结构特征指数;利用测量材料的孔隙率和平均粒径等参数,通过本发明提出的计算公式可得到纸张涂层材料渗吸特性曲线。本发明方法利用材料物理化学中结构测量的相关参数,基于数学计算的方法,测量出纸张涂层材料渗吸特性曲线,为表征纸张涂层材料渗吸特性提供了一种方法。
搜索关键词: 一种 纸张 涂层 材料 特性 测量方法
【主权项】:
1.一种纸张涂层材料渗吸特性的测量方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:步骤1:从待测量的纸张涂层材料中随机抽取测量样本,对抽取的测量样本进行处理,利用氮气吸附仪对测量样本进行纸张涂层材料单层吸附量Qm、吸附常数C和在相对压pi参数下的吸附量Q(pi)的测量;步骤2:通过步骤1中获得纸张涂层材料单层吸附量Qm、吸附常数C和在相对压pi参数下的吸附量Q(pi),根据公式(1)和(2)计算在任何相对压pi下材料结构参数A(i)和B(i),其中i=1,2,3……;A(i)=‑log10(1‑pi)  (1)B(i)=log10(Q(pi))‑log10(Qm)‑log10(C·pi/(1‑pi+C·pi))  (2)公式(1)和公式(2)中,Qm为纸张涂层材料单层吸附量,C为吸附常数,pi为相对压,Q(pi)为在相对压pi参数下的吸附量,A(i)和B(i)均为材料结构参数;步骤3:从步骤2中,以A(i)为横坐标,以B(i)为纵标,画曲线图,求该曲线图中曲线的斜率k;步骤4:根据步骤3中求得的斜率k,根据公式(3)计算纸张涂层材料的结构特征指数Dch;Dch=3‑k  (3)步骤5:测量纸张涂层材料的平均粒径rp,测量纸张涂层材料的孔隙率φ,按照公式(4)计算材料的当量最大孔径Rmax步骤6:在纸张涂层材料结构特征参数Dch、当量最大孔径Rmax和孔隙率φ确定的情况下,根据公式(5)和(6),求出涂层材料的渗吸特性曲线,即渗吸长度l与渗吸时间t的函数关系,从而完成纸张涂层材料渗吸特性的测量:l(t)=4·γLV·cosθ·φ·(5‑Dch)·(1+W(‑e‑1‑at))/((4‑Dch)·g·Rmax·ρ)  (5)公式(5)和(6)中,γLV、η、ρ和θ分别为渗吸印刷流体的表面张力、粘度、密度和流体对材料的润湿角,g为流体重力常数,W为数学函数中的Lambert W函数。
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