[发明专利]一种高能激光阵列探测器用取样衰减装置有效
申请号: | 201710045032.7 | 申请日: | 2017-01-22 |
公开(公告)号: | CN106768310B | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 何均章;周山;张卫;胡晓阳;庞淼;魏继峰;高学燕;常艳;周文超 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
主分类号: | G01J1/04 | 分类号: | G01J1/04 |
代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心51210 | 代理人: | 翟长明,韩志英 |
地址: | 621999 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供了一种高能激光阵列探测器用取样衰减装置,所述取样衰减装置包含数个按照规律排布的结构相同的取样衰减器。每个取样衰减器包括前铜板、后铜板、衰减片固定板、衰减片和衰减片压板。取样衰减器的前部设置有前铜板,后铜板紧贴前铜板,衰减片固定板紧贴后铜板,衰减片安装在衰减片固定板中,衰减片压板紧贴衰减片。本发明中的前铜板上采用两个空间斜孔对激光束进行取样,可以实现对激光束的大角度探测。前铜板用于漫反射非取样高能激光,具有较高的损伤阈值。通过前铜板、后铜板间设置的球孔衰减和衰减片厚度或反射率调节衰减倍率。本发明解决了阵列探测器测量中高能量密度和大探测角度问题,对于激光强度分布测量具有重要意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 高能 激光 阵列 探测 器用 取样 衰减 装置 | ||
【主权项】:
一种高能激光阵列探测器用取样衰减装置,其特征在于:所述的取样衰减装置含有数个结构相同的取样衰减器,取样衰减器按阵列排布;每个取样衰减器包括前铜板(1)、后铜板(2)、衰减片固定板(3)、圆柱状的衰减片(5)和衰减片压板(4);所述的前铜板(1)用于高能激光束取样,对非取样激光进行漫反射;后铜板(2)用于传递前铜板(1)的热量;衰减片固定板(3)、衰减片压板(4)用于固定衰减片(5);所述的取样衰减器的前部设置有前铜板(1),在前铜板(1)后依次压贴有后铜板(2)、衰减片固定板(3)、衰减片压板(4);所述的前铜板(1)上设置有圆形的斜孔Ⅰ(6)、斜孔Ⅱ(7);在前铜板(1)的后表面设置有一半球孔Ⅰ(8),后铜板(2)的前表面设置有一半球孔Ⅱ(9),前铜板(1)的后表面的半球孔Ⅰ(8)与后铜板(2)的半球孔Ⅱ(9)构成一个球孔;后铜板(2)中心设置有一圆形的通孔Ⅰ(10),衰减片固定板(3)中心设置有通孔Ⅱ (11)、在通孔Ⅱ (11)后设置有圆孔(12);衰减片压板(4)中心设置有一圆形的通孔Ⅲ(13);衰减片固定板(3)贴于后铜板(2)上,衰减片(5)安装在衰减片固定板(3)的圆孔(12)内;衰减片固定板(3)的前端设置有一用于放置衰减片(5)的圆台阶;所述取样衰减器中的斜孔Ⅰ(6)与斜孔Ⅱ(7)设置为空间对称结构,斜孔Ⅰ(6)与斜孔Ⅱ(7)呈一夹角α,斜孔Ⅰ(6)与斜孔Ⅱ(7)的前端分别位于前铜板(1)的前表面、其后端相叠,相叠孔位于半球孔Ⅰ(8)上;衰减片(5)设置于衰减片固定板(3)的圆台阶上,衰减片(5)的左端贴于圆台阶、右端与衰减片压板(4)的通孔Ⅲ(13)左端齐平;所述的半球孔Ⅰ(8)、半球孔Ⅱ(9)、通孔Ⅰ(10)、通孔Ⅱ(11)、圆孔(12)和通孔Ⅲ(13)为同轴心设置。
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