[发明专利]一种高能激光阵列探测器用取样衰减装置

摘要

本发明提供了一种高能激光阵列探测器用取样衰减装置，所述取样衰减装置包含数个按照规律排布的结构相同的取样衰减器。每个取样衰减器包括前铜板、后铜板、衰减片固定板、衰减片和衰减片压板。取样衰减器的前部设置有前铜板，后铜板紧贴前铜板，衰减片固定板紧贴后铜板，衰减片安装在衰减片固定板中，衰减片压板紧贴衰减片。本发明中的前铜板上采用两个空间斜孔对激光束进行取样，可以实现对激光束的大角度探测。前铜板用于漫反射非取样高能激光，具有较高的损伤阈值。通过前铜板、后铜板间设置的球孔衰减和衰减片厚度或反射率调节衰减倍率。本发明解决了阵列探测器测量中高能量密度和大探测角度问题，对于激光强度分布测量具有重要意义。

主权项

一种高能激光阵列探测器用取样衰减装置，其特征在于：所述的取样衰减装置含有数个结构相同的取样衰减器，取样衰减器按阵列排布；每个取样衰减器包括前铜板(1)、后铜板(2)、衰减片固定板(3)、圆柱状的衰减片(5)和衰减片压板(4)；所述的前铜板(1)用于高能激光束取样，对非取样激光进行漫反射；后铜板(2)用于传递前铜板(1)的热量；衰减片固定板(3)、衰减片压板(4)用于固定衰减片(5)；所述的取样衰减器的前部设置有前铜板(1)，在前铜板(1)后依次压贴有后铜板(2)、衰减片固定板(3)、衰减片压板(4)；所述的前铜板(1)上设置有圆形的斜孔Ⅰ(6)、斜孔Ⅱ(7)；在前铜板(1)的后表面设置有一半球孔Ⅰ(8)，后铜板(2)的前表面设置有一半球孔Ⅱ(9)，前铜板(1)的后表面的半球孔Ⅰ(8)与后铜板(2)的半球孔Ⅱ(9)构成一个球孔；后铜板(2)中心设置有一圆形的通孔Ⅰ(10)，衰减片固定板(3)中心设置有通孔Ⅱ (11)、在通孔Ⅱ (11)后设置有圆孔(12)；衰减片压板(4)中心设置有一圆形的通孔Ⅲ(13)；衰减片固定板(3)贴于后铜板(2)上，衰减片(5)安装在衰减片固定板(3)的圆孔(12)内；衰减片固定板(3)的前端设置有一用于放置衰减片(5)的圆台阶；所述取样衰减器中的斜孔Ⅰ(6)与斜孔Ⅱ(7)设置为空间对称结构，斜孔Ⅰ(6)与斜孔Ⅱ(7)呈一夹角α，斜孔Ⅰ(6)与斜孔Ⅱ(7)的前端分别位于前铜板(1)的前表面、其后端相叠，相叠孔位于半球孔Ⅰ(8)上；衰减片(5)设置于衰减片固定板(3)的圆台阶上，衰减片(5)的左端贴于圆台阶、右端与衰减片压板(4)的通孔Ⅲ(13)左端齐平；所述的半球孔Ⅰ(8)、半球孔Ⅱ(9)、通孔Ⅰ(10)、通孔Ⅱ(11)、圆孔(12)和通孔Ⅲ(13)为同轴心设置。