[发明专利]一种空间带电粒子辐射剂量的测量装置及方法有效
| 申请号： | 201710046128.5 | 申请日： | 2017-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN108345022B | 公开（公告）日： | 2019-08-20 |
| 发明（设计）人： | 张斌全;余庆龙;张珅毅;荆涛;梁金宝;孙越强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01T1/02 | 分类号： | G01T1/02 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 王宇杨;杨青 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种空间带电粒子辐射剂量的测量装置，所述装置包括：带电粒子传感器和信号处理电路；所述带电粒子传感器用于将带电粒子辐射转换为自由电荷并进行输出；所述信号处理电路用于对带电粒子传感器输出的电荷进行处理，得到带电粒子的辐射剂量。此外，基于该装置，本发明还公开了一种空间带电粒子辐射剂量的测量方法，该方法能够获取空间带电粒子的辐射剂量。本发明的装置采用硅半导体传感器来测量辐射剂量，可以对单个粒子信号进行测量分析，提高了剂量测量的灵敏度，灵敏度可以达到μrad(Si)水平；本发明的硅半导体传感器为高纯高阻硅材料，工作电压低，降低了装置的功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射剂量 带电粒子 传感器 空间带电粒子 信号处理电路 测量装置 硅半导体 灵敏度 测量 测量分析 单个粒子 辐射转换 剂量测量 自由电荷 输出 电荷 电压低 硅材料 高纯 高阻 功耗 | ||
【主权项】：
1.一种空间带电粒子辐射剂量的测量装置，所述装置包括：带电粒子传感器和信号处理电路；其特征在于，所述带电粒子传感器用于将带电粒子辐射转换为自由电荷并进行输出；所述信号处理电路用于对带电粒子传感器输出的电荷进行处理，得到带电粒子的辐射剂量；所述带电粒子传感器采用硅半导体传感器，材料为高纯高阻的硅半导体，厚度为200μm，电阻率大于104Ω·cm，全耗尽电压低于10V。
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