[发明专利]纳米颗粒荧光空间编码防伪标识方法在审
| 申请号： | 201710046454.6 | 申请日： | 2017-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN106548485A | 公开（公告）日： | 2017-03-29 |
| 发明（设计）人： | 曾和平;李敏 | 申请（专利权）人： | 上海朗研光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/13 | 分类号： | G06T7/13;G06T7/11;G06T7/187;G06Q30/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200237 上海市闵行*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种纳米颗粒荧光空间编码防伪标识方法，其包括如下步骤S1制备荧光纳米颗粒；S2利用所述荧光纳米颗粒制作防伪图案；S3用光照射所述防伪图案，建立防伪模型；S4将待测真伪的图片使用与步骤S3相同的方法处理后，提出荧光强度和空间分布特征信息，用所述防伪模型进行相似性度量，以确定图片的真伪。与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果防伪图案具有唯一性，纳米颗粒分布具有随机不可控性，所以不可能制作出相同的荧光分布图样，防伪程度高。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 颗粒 荧光 空间 编码 防伪 标识 方法 | ||
【主权项】：
一种纳米颗粒荧光空间编码防伪标识方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：制备荧光纳米颗粒；S2：利用所述荧光纳米颗粒制作防伪图案；S3：用光照射所述防伪图案，建立防伪模型；S4：将待测真伪的图片使用与步骤S3相同的方法处理后，提出荧光纳米颗粒特征信息，用所述防伪模型进行相似性度量，以确定图片的真伪。
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