[发明专利]超高分辨率光矢量分析方法及装置

摘要

本发明公开了一种超高分辨率的光器件光矢量分析方法及装置，本发明方法将单波长光探测信号分为两路，一路以固定的频移量进行移频操作，另一路直接通过光纤，然后对两路光进行耦合；光耦合器输出的两路光探测信号，一路直接进光探测模块，得到参考信号；另一路经过待测器件再输进光探测模块，得到测量信号；提取所述参考信号与测量信号的幅度相位信息，经信号处理得到待测光器件在光探测信号频率处的幅频响应与相频响应；改变单波长光探测信号的波长并重复上述过程，得到待测光器件的光谱矢量响应信息。本发明还公开了一种光器件光谱响应测量系统。本发明能够在实现光器件幅频响应和相频响应的高精度测量的同时，提高测量速度，大幅降低成本。

主权项

1.一种光器件光矢量分析方法，其特征在于，该方法的具体步骤如下：首先，将光源模块输出的单波长光探测信号分为两路，一路以固定的频移量进行移频后输入光耦合器与另一路进行耦合，光耦合器输出两路双波长光探测信号；其次，两路双波长光探测信号分别输入第一、第二光探测模块进行拍频处理，其中包括以下两种情况：1)在光耦合器与第二光探测模块之间不级联待测光器件的条件下，两路双波长光探测信号分别输入第一、第二光探测模块进行拍频处理；幅相提取模块以单波长光探测信号的波长为参考，分别提取第一、第二光探测模块输出信号的幅度相位信息，对提取到的幅度相位信息进行处理后得到第一矢量响应函数；其中，幅相提取模块的工作频率与所述频移量相同；2)在光耦合器与第二光探测模块之间级联待测光器件的条件下，两路双波长光探测信号中的一路输入第一光探测模块进行拍频处理，得到频率与所述频移量相同的射频信号，作为参考信号；另一路通过待测光器件后，再输入第二光探测模块进行拍频处理，得到携带待测光器件在双波长光探测信号频率处的光谱响应信息的射频信号，作为测量信号；幅相提取模块以单波长光探测信号的波长为参考，分别提取参考信号和测量信号的幅度相位信息，对提取到的幅度相位信息进行处理后得到第二矢量响应函数；最后，将第二矢量响应函数除以第一矢量响应函数，得到待测光器件的光谱矢量响应信息。