[发明专利]阻性传感器阵列测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种阻性传感器阵列测量装置，所述阻性传感器阵列为共用行线和列线的阻性传感器阵列；该测量装置包括：标准电阻行，其包括一行N个标准电阻，被增设于阻性传感器阵列中，从而得到一个新的共用行线和列线的（M+1）×N电阻阵列；（M+1）个运算放大器，与电阻阵列的（M+1）条行线一一对应，各运算放大器的反相输入端、输出端分别通过一根连接线与其所对应行线连接；控制器，其具有至少(M+1)个IO端口以及至少N个ADC采样端口，其中的(M+1)个IO端口与（M+1）个运算放大器的同相输入端一一对应连接，其中的N个ADC采样端口与新的电阻阵列的N条列线一一对应连接。本发明公开了一种阻性传感器阵列测量方法。本发明具有更高测量精度和更大测量量程。

主权项

1.一种阻性传感器阵列测量装置，所述阻性传感器阵列为共用行线和列线的M×N二维阻性传感器阵列；所述测量装置包括：标准电阻行和控制器；所述标准电阻行包括一行N个电阻值已知的标准电阻，作为新的一行被增设于所述阻性传感器阵列中，从而得到一个新的共用行线和列线的(M+1)×N电阻阵列；其特征在于，所述测量装置还包括(M+1)个运算放大器，与所述新的共用行线和列线的(M+1)×N电阻阵列的(M+1)条行线一一对应，每个运算放大器的反相输入端、输出端分别通过一根连接线与其所对应行线连接；所述控制器具有至少(M+1)个IO端口以及至少N个ADC采样端口，其中的(M+1)个IO端口与所述(M+1)个运算放大器的同相输入端一一对应连接，其中的N个ADC采样端口与所述新的共用行线和列线的(M+1)×N电阻阵列的N条列线一一对应连接。