[发明专利]用于测量通道内的中子通量密度的系统在审
| 申请号： | 201710055542.2 | 申请日： | 2017-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN106803434A | 公开（公告）日： | 2017-06-06 |
| 发明（设计）人： | 马飞;张雪荧;李严严;张艳斌;万波;张宏斌;葛红林;陈亮 | 申请（专利权）人： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G21C17/108 | 分类号： | G21C17/108 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 张成新 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测量通道内的中子通量密度的系统，该系统包括第一测量装置，第一测量装置包括第一探头；第一光电倍增管；以及第一光缆，第一光缆将第一探头与第一光电倍增管连接，并且第一测量装置用于测量通道内的与本底对应的信号和与中子对应的信号；以及第二测量装置，第二测量装置包括第二探头；第二光电倍增管；以及第二光缆，第二光缆将第二探头与第二光电倍增管连接，并且第二测量装置用于仅仅测量通道内的与本底对应的信号且不能测量到通道内的与中子对应的信号。采用本发明的技术方案，可以过滤掉本底及环境伽马射线的影响，不需要专门做信号甄别。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 通道 中子通量 密度 系统 | ||
【主权项】：
一种用于测量通道内的中子通量密度的系统，包括：第一测量装置，第一测量装置包括：第一探头；第一光电倍增管；以及第一光缆，第一光缆将第一探头与第一光电倍增管连接，并且第一测量装置用于测量通道内的与本底对应的信号和与中子对应的信号；以及第二测量装置，第二测量装置包括：第二探头；第二光电倍增管；以及第二光缆，第二光缆将第二探头与第二光电倍增管连接，并且第二测量装置用于仅仅测量通道内的与本底对应的信号且不能测量到通道内的与中子对应的信号。
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