[发明专利]用于随机数产生器的随机性测试设备及方法有效
| 申请号： | 201710055989.X | 申请日： | 2017-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN108089840B | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 卡尔平斯基·博赫丹;李容基;卢美贞;朴商旭;金祺倬;金容秀;崔允赫 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F7/58 | 分类号： | G06F7/58 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 王兆赓;张川绪 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于随机数产生器的随机性测试设备及方法。一种用于测试随机数产生器的设备包括相关性测试电路和随机性确定电路。相关性测试电路提取由随机数产生器产生的比特流中的均包括彼此隔开第一距离的两个比特的第一多个比特对，获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和，并获得第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特。随机性确定电路基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 随机数 产生器 随机性 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试随机数产生器的设备，所述设备包括：相关性测试电路，被配置为：提取由随机数产生器产生的比特流中的第一多个比特对，所述第一多个比特对的每个比特对包括彼此隔开第一距离的两个比特；获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和；获得比特流中的第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特；随机性确定电路，被配置为基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。
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