[发明专利]一种应用于反熔丝FPGA编程前的自动化测试方法有效
申请号: | 201710057883.3 | 申请日: | 2017-01-23 |
公开(公告)号: | CN106771991B | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 李威;彭玉玲;杜涛 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 611731 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及一种应用于反熔丝FPGA的编程前自动化测试方法。此方法可以对任意反熔丝FPGA进行编程前自动化测试。本发明首先构建测试向量库,利用软件手段由测试向量发送模块自动从测试向量库中抽取测试向量,并将测试向量分别同时输入电路逻辑仿真激励施加模块和电路响应验证模块,进行反熔丝FPGA电路仿真,经过电路仿真分析和验证后,输入被测反熔丝FPGA芯片,然后由测试响应验证模块采集FPGA芯片输出结果,并与之前输入的参考测试信息进行比对,自动生成测试报告,由此实现反熔丝FPGA的编程前自动化测试。整个测试过程能有效避免大量人工干预,测试结束后,查看测试报告,即可知道芯片的测试结果。本发明能够快速完成反熔丝FPGA芯片的编程前自动化测试,显著提升反熔丝FPGA芯片的测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 应用于 反熔丝 fpga 编程 自动化 测试 技术 | ||
【主权项】:
1.基于自动化测试技术的一种应用于反熔丝FPGA编程前的自动化测试方法,其特征在于:电路逻辑特征化抽象数据信息提取,提取信息的测试向量格式化生成,测试向量库构建,利用电路仿真平台对自动化测试向量及测试方法的验证,利用硬件测试平台对反熔丝FPGA芯片的自动化测试;首先构建测试向量库,利用软件手段由测试向量发送模块自动从测试向量库中抽取测试向量,并将测试向量分别输入仿真激励施加模块和电路响应验证模块,经过电路仿真平台分析和验证后,由测试激励施加模块输入被测反熔丝FPGA芯片,然后由测试响应验证模块采集FPGA芯片输出结果,并与之前输入的测试向量信息进行比对,自动生成测试报告,由此实现反熔丝FPGA的编程前自动化测试;所述提取信息的测试向量格式化生成在于:利用软件把被测反熔丝FPGA芯片中的可编程逻辑模块或输入输出模块对应的控制寄存器有效位编号信息转化为符合反熔丝FPGA测试向量规范的二进制序列,要配置可编程逻辑模块的某种功能或配置输入输出模块的端口功能时,需要在一些特定编号的控制寄存器中载入1和0,把需要载入1的控制寄存器和需要载入0的控制寄存器对应的位置编号信息描述出来,然后通过软件把这些数据信息的描述转化为与被测反熔丝FPGA芯片匹配的二进制序列,即完成提取信息的测试向量格式化;测试向量库构建则是把被测反熔丝FPGA芯片中的所有可编程逻辑模块和输入输出模块所需的已经格式化的测试向量集合到一起构成一个完整的测试向量库,反熔丝FPGA编程前测试时直接从测试向量库中自动抽取需要的测试向量。
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