[发明专利]基点和基线的获取方法及接触角的测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 201710062623.5 申请日: 2017-01-23
公开(公告)号: CN106855398B 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 高开中;王永平;赵志亮 申请(专利权)人: 苏州艺力鼎丰智能技术有限公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01N13/00
代理公司: 苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙) 32299 代理人: 张锦波
地址: 215100 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种液滴测量接触角中基点和基线的获取方法,包括以下步骤:分别识别出图像中液滴倒影和液滴本身的边缘并对图像中液滴倒影和液滴本身的边缘分别进行曲线拟合形成拟合线;液滴倒影边缘的拟合线与液滴本身边缘的拟合线的两个交点为基点,连接两个基点得到基线。本发明的液滴测量接触角中基点和基线的获取方法,通过在图像上拟合液滴倒影和液滴本身边缘的拟合线,两条拟合线的交点即为基点,连接两个交点即为基线,可以克服现有技术中图像中液、固交界处的识别困难,导致基线的获取不准确的问题,提高基线的获得精度,提高接触角的测量精度。本发明还提供基于上述基点和基线的获取方法的接触角的测量方法和装置。
搜索关键词: 基点 基线 获取 方法 接触角 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种液滴测量接触角中基点和基线的获取方法,其特征在于,包括以下步骤:分别识别出图像中液滴倒影和液滴本身的边缘并对图像中液滴倒影和液滴本身的边缘分别进行曲线拟合形成拟合线;液滴倒影边缘的拟合线与液滴本身边缘的拟合线的两个交点为基点,连接两个基点得到基线;曲线拟合采用霍夫圆/霍夫多项式拟合方法;通过图像得到基点和基线后,还包括测量液滴倒影边缘的拟合线与液滴本身边缘的拟合线到基线的最长距离,然后比较两个距离的差值,如果差值比例小于1%,则确定为最终基点和最终基线,如果差值比例大于1%,则重新对液滴倒影边缘和/或液滴本身边缘进行拟合,并重新确定基点和基线,直至液滴倒影边缘的拟合线与液滴本身边缘的拟合线到基线的最长距离之间的差值比例小于1%。
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