[发明专利]储存和释放电能的层合装置有效

专利信息
申请号: 201710063133.7 申请日: 2017-02-03
公开(公告)号: CN106653378B 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 徐天骄;徐跃 申请(专利权)人: 徐跃
主分类号: H01G11/08 分类号: H01G11/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226011 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种储存电能的层合装置,具有依次连接的第一集电体、第一半导体、介电体、第二半导体、第二集电体,所述的第一半导体与第二半导体可以是不同品种的半导体,第一集电体和第二集电体具有能够分别连接电源正极和负极的引出装置,介电体优选是介电常数为1000‑50000的钛酸盐类的陶瓷。储存电能的装置可以与其它元器件连接构成释放电能的装置。本发明具有耐高压、耐高低温、储存能量较大、寿命长久的优点。
搜索关键词: 储存 释放 电能 装置
【主权项】:
1.一种储存和释放电能的层合装置,其特征在于:具有依次连接的第一集电体、第一半导体、介电体、第二半导体、第二集电体;第一集电体和第二集电体具有能够分别连接电源正极和负极的引出装置,以便给本装置充电,充电后的正负电荷能够位于集电体内表面和分散于半导体内部空间中;/n所述的集电体为良导体制成;所述的半导体的主要成分为IVA族元素、IIA~VIA族元素的化合物或者IB~VIB族元素的化合物;所述的介电体为绝缘材料层制成;/n所述的第一半导体是N型半导体,第二半导体是P型半导体;或者,第一半导体是P型半导体,第二半导体是N型半导体;/n所述的集电体厚度介于1μm~5.0mm;绝缘材料层厚度介于0.01mm-10mm;半导体的厚度介于0.001μm~5mm;/n所述的半导体是N型半导体或者P型半导体;P型半导体为掺杂IIA或IIIA族元素的半导体,或者为主要含有IIA或IIIA族元素化合物、或IIIB~VB族元素化合物的半导体;N型半导体为掺杂VA或VIA族元素的半导体,或者为主要含有VA或VIA族元素化合物、IIIB~VB族元素化合物的半导体;它们的掺杂浓度介于10
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于徐跃,未经徐跃许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710063133.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top