[发明专利]面向柔性标签卷绕复合的多层套准控制系统及方法

摘要

本发明公开了一种面向柔性RFID标签卷绕复合的多层膜套准控制系统及方法，包括：(a)放料、复合、收料单元的系统构成；(b)标签步距、工作张力、张力边界等工艺参数参考值输入；(c)多个传感器根据触发位置关系，协同检测多层膜运动进给方向的套准偏差，建立张力和套准偏差关系模型，并转化为张力调节量；(d)利用张力‑位置‑速度闭环控制方式，同步多层膜目标张力下的进给速度，修正套准偏差并复合；(e)构建放料和收料卷径算法，根据卷径变化调整驱动器转矩输出，保证收放料恒张力运行。通过本发明，可实现多层膜在可控张力条件下的高速、高精度的套准要求，尤其适用柔性RFID标签复合产品的制备过程。

主权项

1.一种面向柔性标签卷绕复合的多层套准控制系统，其中料卷经放卷装置、进料S辊牵引至复合区，中间层膜和下层膜复合后，再与上层膜复合，在多层复合过程中，各层膜图案在进给方向动态对齐套准，同时，复合成品和不干胶底纸通过收料装置收集，其特征在于，该控制系统构成包括：(a)中间层放料单元(1)，由Inlay放料轴(11)、Inlay放料线速检测惰辊(41)和Inlay进料S辊(21)组成；(b)下层膜放料单元(2)，由下层膜放料轴(12)、下层膜放料线速检测惰辊(42)、下层膜进料S辊(22)、下层膜收料线速检测惰辊(45)和下层膜收料轴(15)组成；(c)上层膜放料单元(3)，由上层膜放料轴(13)、上层膜放料线速检测惰辊(43)、上层膜进料S辊(23)、上层膜收料线速检测惰辊(44)和上层膜收料轴(14)组成；(d)一次复合单元(4)，由Inlay张力检测辊(51)、下层膜张力检测辊(52)、Inlay偏差检测传感器(61)和下层膜偏差检测传感器(62)、一次复合压辊(31)、一次复合后Inlay套准检测传感器(64)和一次复合后下层膜套准检测传感器(63)组成；(e)二次复合单元(5)，由上层膜张力检测辊(53)、上层膜偏差检测传感器(65)、二次复合压辊(32)、二次复合后上层膜套准检测传感器(66)和二次复合后下层复合膜套准检测传感器(63)组成；(f)成品收料单元(6)，由复合收料S辊(24)、成品收料线速检测惰辊(46)和成品收料轴(16)组成；系统采用颜色传感器作为偏差检测和套准检测，其中一次复合后Inlay套准检测传感器(64)既作为一次复合后Inlay套准效果检测，同时完成一次复合后的下层复合膜偏差检测，偏差检测采集数据参与控制运算，套准检测采集数据只作为校核套准效果。