[发明专利]一种地外天体大气成分及同位素测量仪和测量方法有效
申请号: | 201710064884.0 | 申请日: | 2017-02-05 |
公开(公告)号: | CN107045016B | 公开(公告)日: | 2018-09-14 |
发明(设计)人: | 刘子恒;贺怀宇;苏菲 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 巴晓艳 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明主要属于大气组分测量技术领域,具体涉及一种地外天体大气成分及同位素测量仪和测量方法。本发明所述测量仪包括气体采集室、气体处理室、四级杆质谱、高真空泵;气体采集室,用于采集并存储待测地外天体大气;气体处理室,外围设置加热装置,内部设置温度压力感应装置,对待测地外天体大气进行处理,为气体元素及同位素测量做准备;四级杆质谱,对气体处理室处理后的待测地外天体大气进行测试,测量获得地外天体大气成分及同位素含量;高真空泵,与气体处理室和四级杆质谱连接用于维持高真空环境。该测量仪的重量小,在目前航天载荷所能够承受的范围内,并且该测量仪能测试到高精度准确可靠的实验数据。 | ||
搜索关键词: | 种地 天体 大气 成分 同位素 测量仪 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种地外天体大气成分及同位素测量仪,其特征在于,所述测量仪包括气体采集室、气体处理室、四级杆质谱仪、高真空泵;气体采集室,用于采集并存储待测地外天体大气;气体处理室,外围设置加热装置,气体处理室的进气口与气体采集室连接,气体处理室对待测地外天体大气进行处理,为气体元素及同位素测量做准备;四级杆质谱仪,与气体处理室的出气口连接,对气体处理室处理后的待测地外天体大气进行测试,测量获得地外天体大气成分及同位素含量;高真空泵,与气体处理室和四级杆质谱仪连接;所述测量仪还包括活性气体吸附装置,活性气体吸附装置的一端与气体处理室连接,另一端与所述高真空泵连接。
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