[发明专利]一种单粒子辐照实验测试装置、系统及方法在审
| 申请号： | 201710065115.2 | 申请日： | 2017-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN106908672A | 公开（公告）日： | 2017-06-30 |
| 发明（设计）人： | 王洋;朱明 | 申请（专利权）人： | 王洋 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200123 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种单粒子辐照实验测试装置、系统及方法，所述单粒子辐照实验测试装置，包括测试母板及与所述测试母板连接的测试子板，所述测试子板与测试器件对应设置；所述测试母板适于接收外部远程操作计算机发送的控制数据并基于所述控制数据控制所述测试子板对所述测试器件进行测试，并将当前测试数据反馈至所述外部远程操作计算机。本发明能够适应不同类型测试器件的辐照试验过程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粒子 辐照 实验 测试 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种单粒子辐照实验测试装置，其特征在于，包括：测试母板及与所述测试母板连接的测试子板，所述测试子板与测试器件对应设置；所述测试母板适于接收外部远程操作计算机发送的控制数据并基于所述控制数据控制所述测试子板对所述测试器件进行测试，并将当前测试数据反馈至所述外部远程操作计算机。
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