[发明专利]一种应用于IC测试的高低温测试装置在审

专利信息
申请号: 201710066043.3 申请日: 2017-02-06
公开(公告)号: CN106908711A 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 张家港市欧微自动化研发有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司32261 代理人: 赵丽丽
地址: 215600 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种应用于IC测试的高低温测试装置,主要解决了现有技术中存在的不能够在不开启高低温箱时对单个异常的集成电路进行异常排查与修正,也不能够彻底的将不能修正或测试完成的集成电路的电源断开,进入静默状态的技术问题。本发明通过包括上位机,与上位机相连的硬件电路,与所述硬件电路连接的多个IC;所述硬件电路包括处理器,与所述处理器并连连接的电源模块,电流监控模块,电压监控模块及开关模块的测试装置,较好的解决了该问题,可用于IC的工业生产中。
搜索关键词: 一种 应用于 ic 测试 低温 装置
【主权项】:
一种应用于IC测试的高低温测试装置,其特征在于:所述高低温测试装置包括上位机,与上位机相连的硬件电路,与所述硬件电路连接的多个IC;所述硬件电路包括处理器,与所述处理器并联连接的电源模块,电流监控模块,电压监控模块及开关模块;所述上位机与处理器连接并通信;所述处理器用于控制电源模块,电流监控模块,电压监控模块及开关模块;所述电源模块还与所述电压监控模块及电流检测模块相连;所述电压监控模块用于检测IC的工作电压;所述电流检测模块用于检测IC的工作电流;所述温度传感器用于检测IC的工作温度;所述开关电路用于控制IC。
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