[发明专利]一种应用于IC测试的高低温测试方法

摘要

本发明涉及一种应用于IC测试的高低温测试方法，主要解决了现有技术中存在的不能够在不开启高低温箱时对单个异常的集成电路进行异常排查与修正，也不能够彻底的将不能修正或测试完成的集成电路的电源断开，进入静默状态的技术问题。所述测试装置的工作方法通过依次进行电压检测与修正，电流检测与修正来排查与修正异常IC的技术方案，较好的解决了该问题，可用于IC的工业生产中。

主权项

一种应用于IC测试的高低温测试方法，其特征在于：所述方法包括：(1)将多IC放入高低温箱，连接测试装置与IC；(2)启动上位机，输出自动测试指令；(3)初始化所述测试装置中的开关，开关均为断开状态；(4)检测高低温温度，温度稳定后开启电源模块；(5)上位机分别下载程序到n个IC，处理器接收每个IC打印的测试信息，同时所述电压监控模块工作，检测IC的输出Pin电压，正常则跳至步骤(8)，前两次异常返回步骤(3)，第三次异常进入步骤(6)；(6)进行异常修复，循环检测打印信息，正常则跳至步骤(5)，异常跳至断掉该路的电源及所有开关进入步骤(7)；(7)选择手动操作，手动操作包括通过上位机给所述处理器发送相应指令进行单项调试及测试，处理器停止处理其余IC打印的测试信息；(8)高低温测试结束，通过上位机进行测试数据分析。