[发明专利]半导体封装组件有效
申请号: | 201710067544.3 | 申请日: | 2017-02-07 |
公开(公告)号: | CN107180826B | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 林圣谋;何敦逸 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/18 | 分类号: | H01L25/18;H01L23/498 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明实施例提供一种半导体封装组件,可包括:基板;位于所述基板上的第一衬垫和第二衬垫;安装在所述基板上的逻辑芯片,所述逻辑芯片包括耦接于所述第二衬垫的第一逻辑芯片衬垫;安装在所述基板上的存储器芯片,所述存储器芯片包括第一存储器芯片衬垫和第一再分配层轨迹;其中,所述第一再分配层轨迹包括第一端和第二端,所述第一端通过所述第一存储器芯片衬垫耦接于所述第一衬垫,所述第二端耦接于所述第二衬垫而非所述第一衬垫;其中,所述第一衬垫和所述第二衬垫为接地衬垫。实施本发明实施例,可在存储器芯片的再分配层轨迹长度较长时,改善信号的完整性和减少耦合噪声。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 组件 | ||
【主权项】:
一种半导体封装组件,其特征在于,包括:基板;位于所述基板上的第一衬垫和第二衬垫;安装在所述基板上的逻辑芯片,所述逻辑芯片包括耦接于所述第二衬垫的第一逻辑芯片衬垫;安装在所述基板上的存储器芯片,所述存储器芯片包括第一存储器芯片衬垫和第一再分配层轨迹;其中,所述第一再分配层轨迹包括第一端和第二端,所述第一端通过所述第一存储器芯片衬垫耦接于所述第一衬垫,所述第二端耦接于所述第二衬垫而非所述第一衬垫;其中,所述第一衬垫和所述第二衬垫为接地衬垫。
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