[发明专利]一种工件形貌的测量方法和系统在审
| 申请号： | 201710069138.0 | 申请日： | 2017-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN108398101A | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 邹如飞;王喆 | 申请（专利权）人： | 邹如飞;王喆 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01S17/48 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100029 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种工件形貌的测量方法和系统，该方法包括：利用激光测距仪对待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据；根据所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据，重构出待测工件的表面形貌。本方案将对于待测工件的表面形貌的测量细化为对于待测工件的表面上的各个点的距离信息的测量，解决了对于待测工件整体进行测量难度大的问题，且用于进行距离信息的测量的激光测距仪具有测量精度高的特点，有助于得到较为准确的工件表面形貌的测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 待测工件 测量 形貌 激光测距仪 表面形貌 基准位置 距离数据 距离信息 工件表面形貌 测量精度高 细化 重构 扫描 | ||
【主权项】：
1.一种工件形貌的测量方法，其特征在于，包括：利用激光测距仪对待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据；根据所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据，重构出待测工件的表面形貌。
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