[发明专利]一种连铸坯树枝晶间距的评定方法在审
申请号: | 201710071967.2 | 申请日: | 2017-02-09 |
公开(公告)号: | CN106871825A | 公开(公告)日: | 2017-06-20 |
发明(设计)人: | 刘珂;孙齐松;丁宁;吕迺冰;佟倩;徐士新;柳洋波 | 申请(专利权)人: | 首钢总公司 |
主分类号: | G01B15/00 | 分类号: | G01B15/00 |
代理公司: | 北京华谊知识产权代理有限公司11207 | 代理人: | 王普玉 |
地址: | 100041 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种连铸坯树枝晶间距的评定方法,属于连铸坯凝固组织检验分析技术领域。包括截取铸坯横截面试样,经处理后得到金相磨面;选择目标视场,用电子探针波谱仪对视场内C、Si、Mn、P、S等元素进行面扫描,时间为5~40ms、步长为3~5μm;获得视场内元素分布规律即反映出原始枝晶的形貌;选择包含10~20个一次枝晶间距或二次枝晶间距的代表性路径,提取路径上合金元素含量;根据代表性路径上合金元素波峰或波谷的个数n以及路径的长度L,即可计算出该路径的平均一次枝晶间距λ1或二次枝晶间距λ2。优点在于,方法简单合理、适用性强。 | ||
搜索关键词: | 一种 连铸坯 树枝 间距 评定 方法 | ||
【主权项】:
一种连铸坯树枝晶间距的评定方法,其特征在于,具体步骤及参数如下:1)截取铸坯横截面试样,经切割、磨制、抛光后得到金相磨面;2)选择目标视场,用电子探针波谱仪对视场内C、Si、Mn、P、S元素进行面扫描,扫描测量条件为:加速电压10~30kv,电子束电流100~1000nA,扫描时间5~40ms,扫描步长3~5μm;3)扫描获得视场内C、Si、Mn、P、S元素的分布规律;通过C、Si、Mn、P、S的分布反映出原始枝晶的形貌;4)在视场内选择包含10~20个一次枝晶间距或二次枝晶间距的代表性路径,提取其C、Mn合金元素含量;提取选择路径上合金元素含量,得到路径上合金元素含量与位置的关系;5)根据代表性路径上合金元素波峰或波谷的个数n以及路径的长度L,计算出该路径的平均一次枝晶间距λ1或二次枝晶间距λ2,公式如下:λ1=Ln,λ2=Ln]]>
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