[发明专利]应用于集成电路的输入过压保护电路有效

专利信息
申请号: 201710072195.4 申请日: 2017-02-09
公开(公告)号: CN106655109B 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 李志林;谭磊;王宇 申请(专利权)人: 圣邦微电子(北京)股份有限公司
主分类号: H02H7/20 分类号: H02H7/20;H02H3/20;H02H3/06
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 吴小灿
地址: 100089 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 应用于集成电路的输入过压保护电路,通过外置于集成电路芯片的MOS开关管断开高压以避免高压直接输入而损坏芯片内部电路,从而实现芯片内部电路的过压保护,其特征在于,包括集成电路芯片,所述集成电路芯片中具有受保护芯片电路,所述集成电路芯片的外部设置有外置过压保护MOS开关管,所述外置过压保护MOS开关管位于外部输入电压端与受保护芯片电路供电电压端之间。
搜索关键词: 应用于 集成电路 输入 保护 电路
【主权项】:
1.应用于集成电路的输入过压保护电路,其特征在于,包括集成电路芯片,所述集成电路芯片中具有受保护芯片电路,所述集成电路芯片的外部设置有外置过压保护MOS开关管,所述外置过压保护MOS开关管位于外部输入电压端与受保护芯片电路供电电压端之间;所述外置过压保护MOS开关管为第三NMOS管,所述第三NMOS管的漏极连接外部输入电压端,所述第三NMOS管的源极连接受保护芯片电路供电电压端,所述第三NMOS管的栅极通过第一电容接地;所述第三NMOS管的栅极通过第一电阻连接所述第三NMOS管的漏极;所述集成电路芯片中包括第一NMOS管、第二NMOS管和第一倒相放大器;所述第一NMOS管的漏极和所述第二NMOS管的漏极均连接所述第三NMOS管的栅极,所述第一NMOS管的源极连接所述受保护芯片电路供电电压端,所述第一NMOS管的栅极通过第一倒相放大器连接所述第二NMOS管的栅极,所述第一NMOS管的栅极接收所述受保护芯片电路输出的过压控制信号,所述第二NMOS管的源极连接受保护芯片电路中升压电路。
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