[发明专利]半导体设备及其操作方法有效
| 申请号： | 201710073120.8 | 申请日： | 2017-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN107066232B | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 尹栽根;赵成旻;赵胤校;金秉珍;姜东秀;成洛熙 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F5/08 | 分类号： | G06F5/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种半导体设备及其操作方法。一种半导体设备的操作方法，包括：监视在主设备和从设备之间所传送的多个请求分组和多个响应分组；从多个请求分组当中检测与期望的识别(ID)信息匹配的目标请求分组；通过使用事件计数器对包括目标请求分组的事务的事件的数量进行计数；通过使用多未决(MO)计数器对多个请求分组当中的、其相对应的响应分组尚待检测的请求分组的数量进行计数；确定MO计数器的MO计数值是否有效；以及如果MO计数值无效，则重置事件计数器。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体设备 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
一种半导体设备的操作方法，包括：监视在至少一个主设备和至少一个从设备之间所传送的多个请求分组和多个响应分组；从多个请求分组当中检测与期望的识别(ID)信息匹配的目标请求分组；使用事件计数器基于检测到的目标请求分组对事务的事件的数量进行计数；使用多未决(MO)计数器对多个请求分组当中的、其相对应的响应分组尚未被检测到的请求分组的数量进行计数；确定MO计数器的MO计数值是否有效；以及如果MO计数值无效，则重置事件计数器。
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