[发明专利]用于长波光通信的光电探测器及制备方法有效

专利信息
申请号: 201710074465.5 申请日: 2017-02-10
公开(公告)号: CN106784116B 公开(公告)日: 2018-03-16
发明(设计)人: 胡辉勇;吴继宝;舒斌;陶春阳;杨虹;范林西;李露;王斌;张鹤鸣;宣荣喜 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L31/09 分类号: H01L31/09;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 深圳精智联合知识产权代理有限公司44393 代理人: 王海栋
地址: 710000 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种用于长波光通信的光电探测器及其制备方法,其中,所述制备方法包括选取N型Si或SOI衬底;在所述衬底上生长Ge缓冲层;在所述Ge缓冲层上生长N型GeSn缓冲层;在所述GeSn缓冲层上生长GeSn/Ge多量子阱有源层;在所述GeSn/Ge多量子阱有源层上生长GeSn接触层;在所述GeSn接触层上采用等离子体化学气相沉积工艺生长SiO2;光刻引线以制备所述光电探测器。本发明制备的用于长波光通信的光电探测器测器兼容Si CMOS工艺,克服了暗电流大,低于1800nm连续波段探测问题,高效,且能够在GeSn量子阱中引入不同的应变,调节量子阱的带隙结构以扩展光电探测器的吸收波长范围和吸收系数。
搜索关键词: 用于 长波 光通信 光电 探测器 制备 方法
【主权项】:
一种用于长波光通信的光电探测器的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:(a)选取N型Si或SOI衬底;(b)在所述衬底上生长Ge缓冲层;(c)在所述Ge缓冲层上生长N型GeSn缓冲层;(d)在所述GeSn缓冲层上生长GeSn/Ge多量子阱有源层;(e)在所述GeSn/Ge多量子阱有源层上生长GeSn接触层;(f)在所述GeSn接触层上采用等离子体化学气相沉积工艺生长SiO2;(g)光刻引线以制备所述光电探测器。
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