[发明专利]激光干涉成像系统中样品池的最佳摆放方法有效
申请号: | 201710077203.4 | 申请日: | 2017-02-14 |
公开(公告)号: | CN106841036B | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 张红霞;李姣;周叶;贾大功;刘铁根;张以谟 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
代理公司: | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人: | 刘书元 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种激光干涉成像系统中样品池的最佳摆放方法,属于光学测量领域。利用样品池盛装被测粒子,当样品池表面与光轴呈不同夹角时得到粒子的干涉条纹圆,对比分析得到更适用于倾斜物面的样品池摆放方式。包括以下步骤:1)搭建样品池表面与光轴呈不同夹角的干涉成像系统,记录不同位置的离焦图像;2)对样品池的摆放方式进行模拟,利用光线追迹软件模拟粒子表面出射点的成像情况,模拟不同样品池摆放角度、不同离焦距下的像面图像;3)对样品池的摆放方式进行实验,并记录不同离焦距时条纹图像;4)实验循环判别;5)样品池的最佳摆放方法,根据以上四个步骤,得到样品池的最佳摆放方法。 | ||
搜索关键词: | 激光 干涉 成像 系统 样品 最佳 摆放 方式 | ||
【主权项】:
1.激光干涉成像系统中样品池的最佳摆放方法,其特征是包括以下步骤:1)搭建样品池表面与光轴呈不同夹角的干涉成像系统;搭建激光干涉成像系统,干涉成像系统经过光学元器件被压缩为片状光束,片状光束照射样品池中的被测粒子,在特定散射角下利用成像镜头和CCD传感器得到样品池表面与光轴呈不同夹角时的干涉图像,通过调节位移平台,用CCD传感器记录不同位置的离焦图像;2)对样品池的摆放方式进行模拟;利用光线追迹软件模拟粒子表面出射点的成像情况,对于干涉成像测量,透明球形粒子可以看做两个实时点光源,分别为经过粒子表面反射的0阶出射点和经过粒子内部折射的1阶出射点,据此模拟不同样品池摆放角度、不同离焦距下的像面图像;3)对样品池的摆放方式进行实验;对样品池表面与光轴的夹角取不同的值进行实验,并记录不同离焦距时CCD传感器采集到的条纹图像;4)实验循环判别;判断条纹图像轮廓的横纵轴比是否为1,不为1则将样品池倾斜角度加5°重复第3)步和第4)步;为1则输出此时样品池的倾斜角度;5)样品池的最佳摆放方法;根据以上四个步骤,得到样品池的最佳摆放方法。
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