[发明专利]金属板缺陷轮廓导波成像磁声阵列结构调整方法和装置有效
申请号: | 201710078895.4 | 申请日: | 2017-02-14 |
公开(公告)号: | CN106950283B | 公开(公告)日: | 2019-07-26 |
发明(设计)人: | 黄松岭;张宇;赵伟;王珅;王哲 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06;G01N29/44 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张润 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种金属板缺陷轮廓导波成像磁声阵列结构调整方法和装置,其中,方法包括:将全向磁声换能器均匀布置在待测金属板检测区域内;根据缺陷导波散射信号的幅值和走时计算散射点位置,并将其坐标数据进行三次平滑样条插值形成缺陷轮廓曲线;计算缺陷轮廓曲线上各点的曲率;比较各点曲率与结构调整曲率阈值的大小,并确定磁声阵列调整区域;根据磁声阵列调整区域进行磁声阵列结构调整,并再次计算缺陷轮廓曲线;将两次导波散射缺陷轮廓曲线进行数据融合,形成待检测金属板的缺陷轮廓图像。由此,能够针对不同缺陷轮廓特征对磁声阵列结构进行优化调整,使得缺陷轮廓成像过程更具有针对性,操作便捷,提高了对实际复杂缺陷轮廓的成像效率。 | ||
搜索关键词: | 金属板 缺陷 轮廓 导波 成像 阵列 结构调整 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种金属板缺陷轮廓导波成像磁声阵列结构调整方法,其特征在于,包括以下步骤:将N个全向磁声换能器均匀布置在待检测金属板检测区域内,其中,每个全向磁声换能器作为全向发射磁声换能器按照一定顺序激发全向超声导波,并在所述待检测金属板中有超声导波时作为全向接收磁声换能器全向接收缺陷导波散射信号;根据所述缺陷导波散射信号的幅值和走时计算散射点位置,并将所述散射点位置的坐标数据进行三次平滑样条插值形成缺陷轮廓曲线;在平面极坐标系中,通过求解缺陷轮廓曲线插值函数的一阶和二阶导数计算在所述缺陷轮廓曲线上的各个点的曲率;通过所述各个点的曲率与预设的结构调整曲率阈值比较确定磁声阵列调整区域,并根据所述磁声阵列调整区域对所述磁声阵列结构进行调整,再次计算所述缺陷导波散射信号的缺陷轮廓曲线;将两条缺陷轮廓曲线进行数据融合,形成所述待检测金属板的缺陷轮廓图像。
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