[发明专利]存储装置有效

专利信息
申请号: 201710080698.6 申请日: 2017-02-15
公开(公告)号: CN107808681B 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 岸达也;稻场恒夫;渡边大辅;中山昌彦;尾形诚之;都甲大;相川尚德;小濑木淳一;永濑俊彦;李永民;泽田和也 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: G11C11/16 分类号: G11C11/16
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 刘静;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 根据实施方式,存储装置包括磁阻元件和写入电路,所述磁阻元件包括第1磁性层、第2磁性层以及设置在所述第1磁性层与所述第2磁性层之间的非磁性层,所述写入电路控制第1写入和第2写入,使电流脉冲在所述磁阻元件中流动,所述第1写入使所述第1磁性层的磁化和所述第2磁性层的磁化成为平行状态,所述第2写入使所述第1磁性层的磁化和所述第2磁性层的磁化成为反平行状态。所述第1写入所使用的第1脉冲模式与所述第2写入所使用的第2脉冲模式不同。
搜索关键词: 存储 装置
【主权项】:
一种存储装置,具备:磁阻元件,其包括第1磁性层、第2磁性层以及设置在所述第1磁性层与所述第2磁性层之间的非磁性层;和写入电路,其控制第1写入和第2写入,使电流脉冲在所述磁阻元件中流动,所述第1写入使所述第1磁性层的磁化和所述第2磁性层的磁化成为平行状态,所述第2写入使所述第1磁性层的磁化和所述第2磁性层的磁化成为反平行状态,所述第1写入所使用的第1脉冲模式与所述第2写入所使用的第2脉冲模式不同。
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