[发明专利]一种利用X射线荧光光谱仪扫描道检测元素含量的方法

摘要

本发明公开了一种利用X射线荧光光谱仪扫描道检测元素含量的方法，包括以下步骤：步骤一、建立标准曲线；步骤二、分析生产样品；步骤三、数据补偿修正；步骤四、分析待测样品。本发明在保留了X射线荧光光谱仪的扫描道原有的半定性‑半定量的检测功能的基础上，还拓展了扫描道的定量分析的检测功能，利用分析生产样品计算偏差值和根据偏差值设定补偿系数对待测样品进行数据补偿修正解决了扫描道检测强度低、使得只用半定量功能的扫描道具有与固定道同样的功能，起到了代替固定道的功能。

主权项

1.一种利用X射线荧光光谱仪扫描道检测元素含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、建立标准曲线：设定检测条件，选取标准样品，所述标准样品放置于所述X射线荧光光谱仪的样品台上，所述X射线荧光光谱仪的扫描道对所述标准样品进行荧光分析，得到所述标准样品中分析元素的荧光X射线测定强度，以所述分析元素的荧光X射线测定强度与所述标准样品中分析元素对应的质量分数建立标准曲线；步骤二、分析生产样品：选取多个均匀性一致的生产样品，所述生产样品放置于所述X射线荧光光谱仪的样品台上，所述X射线荧光光谱仪的扫描道对所述生产样品进行荧光分析，得到所述生产样品中分析元素的荧光X射线测定强度，根据生产样品中分析元素的荧光X射线测定强度和步骤一中所述标准曲线得到所述生产样品中分析元素含量的荧光分析值，所述荧光分析值与所述生产样品中分析元素含量的标准值比对得到分析元素含量的偏差值；步骤三、数据补偿修正：根据步骤二中所述偏差值，所述X射线荧光光谱仪的分析结果表示形式窗口设置补偿系数对步骤二中所述荧光分析值进行数据补偿修正，得到修正后的荧光分析值，通过补偿修正，使修正后的荧光分析值和标准值的偏差值符合分析元素含量的再现性限的要求；步骤四、分析待测样品：选取与步骤二中所述生产样品的生产条件一致的待测样品，所述待测样品放置于所述X射线荧光光谱仪的样品台上，所述X射线荧光光谱仪的扫描道对所述待测样品进行荧光分析，所述X射线荧光光谱仪的分析结果表示形式窗口设置与步骤三中相同的补偿系数，根据步骤一中所述标准曲线得到待测样品中分析元素含量的荧光分析值；步骤五、待测样品验证：步骤四所述待测样品中分析元素含量的荧光分析值与其标准值比对，得到所述待测样品中分析元素含量的偏差值，验证所述偏差值是否满足分析元素含量的再现性限的要求。