[发明专利]一种直流/直流转换集成电路测试装置有效
申请号: | 201710084455.X | 申请日: | 2017-02-16 |
公开(公告)号: | CN106841992B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 刘若智 | 申请(专利权)人: | 上海芯哲微电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201400 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种直流/直流转换集成电路测试装置,用于对直流/直流转换集成电路检测,所述直流/直流转换集成电路包括有接地引脚、使能引脚、转换引脚、反馈引脚和电源输入引脚,包括支架,所述支架上设置有放置台,所述放置台包括有接地触点、使能触点、转换触点、反馈触点和电源输入触点,所述支架设置有测试电路。使用时仅需将直流/直流转换集成电路放置在放置平台上,就可以开始测试操作,测试直流/直流转换集成电路的参数是否符合标准,较为简单便利,易于实施。 | ||
搜索关键词: | 一种 直流 转换 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种直流/直流转换集成电路测试装置,用于对直流/直流转换集成电路检测,所述直流/直流转换集成电路包括有接地引脚、使能引脚、转换引脚、反馈引脚和电源输入引脚,其特征在于,包括支架,所述支架上设置有放置台,所述放置台包括有接地触点、使能触点、转换触点、反馈触点和电源输入触点,所述支架设置有测试电路,所述测试电路包括第一测控单元,耦接所述转换触点,用于向所述转换触点输入测量信号或从所述转换触点读取测量数据;第二测控单元,耦接所述电源输入触点,用于向所述电源输入测量信号或从所述反馈触点读取数据;第三测控单元,耦接所述反馈触点,用于向所述反馈触点输入测量信号或从所述反馈触点读取数据;第四测控单元,耦接所述使能触点,用于向所述使能触点输入测量信号或从所述使能触点读取测量数据。
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