[发明专利]用于成分检测的光谱分析系统及光谱分析方法

摘要

本发明涉及一种用于成分检测的光谱分析系统及光谱分析方法，其中光谱分析系统应用于金属成分分析装置中，光谱分析设备包括：降噪处理模块，用于对校正金属样本的光谱数据进行降噪处理，以及对检测金属样本的光谱数据进行降噪处理；校正建模模块，用于基于校正金属样本的光谱数据用化学计量学软件进行建模，得到金属成分测定模型；检测分析模块，用于采用金属成分测定模型和检测金属样本的光谱数据进行分析；以及通信模块。采用该种技术，结合化学计量学和建模建立金属成分分析的校正模型，有选择性地提取与分类目标有关的信息并抑制非相关特征和噪声的影响，可以有效消除各种非目标因素对光谱造成的影响，实现光谱分析更好的技术效果。

主权项

一种用于成分检测的光谱分析系统，其特征在于，所述的光谱分析系统应用于金属成分分析装置中，所述光谱分析设备包括：降噪处理模块，用于对校正金属样本的光谱数据进行降噪处理，以及对检测金属样本的光谱数据进行降噪处理；校正建模模块，用于基于所述校正金属样本的光谱数据用化学计量学软件进行建模，得到金属成分测定模型；检测分析模块，用于采用所述金属成分测定模型和所述检测金属样本的光谱数据，分析得到所述检测金属样本的成分分析数据；以及通信模块，用于与控制设备进行通信；所述金属成分分析装置中包括：取样机器人，用于将金属样品放置于样品室内；所述取样机器人包括第一机械手臂、第二机械手臂、第三手臂和底座，所述第一机械手臂、所述第二机械手臂和所述第三手臂的一端均活动连接于所述底座，所述样品室位于所述第一机械手臂的另一端的活动范围之内，且所述样品室位于所述第二机械手臂的另一端的活动范围之内，所述第一机械手臂用于将所述透明外罩提升或放置回原位，所述第二机械手臂用于将金属样品从托盘中取出或将新的金属样品放置到所述托盘中，所述第三机械手臂的表面环绕设置有擦洗毛刷，所述取样机器人的第一机械手臂将所述透明外罩提升至预设高度时，且所述托盘中没有金属样品时，所述取样机器人的第三手臂对所述托盘进行擦洗；脉冲激光器，用于向所述样品室发射脉冲激光，所述脉冲激光器的超短脉冲输出端对准光谱探测设备中的光谱收集透镜组；光谱探测设备，用于接收激光经所述样品室后的光谱，并将光谱数据发送至控制设备；光谱分析设备，用于从所述控制设备接收所述光谱数据，并根据所述光谱数据分析金属样品的成分；以及控制设备，用于控制所述取样机器人放置样品后，依次触发所述脉冲激光器和光谱探测设备，接收所述光谱探测设备发送的光谱数据，并将所述光谱数据发送至所述光谱分析设备；所述控制设备包括：控制通信模块，用于分别与所述取样机器人、脉冲激光器、光谱探测设备和光谱分析设备进行通信；数据异常判断模块，用于判断所述光谱分析设备的成分分析结果是否异常；以及报警模块，用于当所述数据异常判断模块判断所述成分分析结果异常时，进行报警。